1260 Infinity II Preparatif LC Sistemi

Özellikler

• Günlük veriminizi artırmak ve saflığı en üst düzeye çıkarmak için tam otomatik numune enjeksiyonu ve 132 numune kapasitesine sahip preparatif LC sistemi 
• Son derece güvenilir ve sağlam LC sistemi, sürekli artan iş yükü talebini yönetme yeteneğinizi geliştirir 
• Maksimum 420 bar'da 50 mL/dk'ya kadar dinamik akış aralığı, çok çeşitli semipreparatif iş akışlarında çok yönlü uygulama sağlar 
• Maksimum 132 şişeye kadar kapasiteye sahip 2 ve 6 mL örnek şişelerini destekleyen tam otomatik şişe örnekleyici - 0,1 µL'den 5 mL'ye kadar örnek hacimlerinin enjeksiyonu, kullanıcı etkileşimi olmadan rutin örnek saflaştırma için ideal enjektördür 
• En yüksek numune geri kazanımı ve saflığı için pik dağılımını ve taşınmasını en aza indiren en düşük gecikme hacmi 
• Sistemin yeteneklerini ve işlevselliğini talebinize göre geliştirmek için tamamen yükseltilebilir - aynı ayak izi içinde 648 fraksiyona kadar 
• Bilinen ve güvenilir çalışma için Agilent OpenLab CDS ChemStation aracılığıyla temiz yazılım altyapısı 
• Her modüldeki entegre sızıntı sensörü tüm sistemi kapatarak bir sızıntı tespit edildiğinde ek güvenlik sağlar 

Nasıl Çalışır? 

Benzersiz fraksiyon gecikme sensörü teknolojisi 

Dedektör akış hücresi ile yönlendirme valfi arasındaki pikin tam gecikme süresini belirlemek için, Agilent 1260 Infinity II Preparatif Sistem bir fraksiyon gecikme sensörü ile donatılmıştır. Bu cihaz, bir kalibrasyon işlemi sırasında pikin dedektörden gecikme sensörüne gitmesi için gereken süreyi ölçer. Ölçülen zaman farkı, solvent dağıtım sisteminden uygulanan akış hızı geri bildirimi kullanılarak bir gecikme hacmine dönüştürülür. 

Örnek geri kazanım toplayıcısı ile örnek kaybını önleyin 

Herhangi bir saflaştırma görevinin amacı, alıkonma süresi, belirli dalga boylarında UV sinyal yoğunluğu veya hedef kütle bolluğu ile tanımlamaya dayalı olarak ilgilenilen bileşikleri toplamaktır. İlgilenilen bileşiklerin toplanmamasının uygun olmayan fraksiyon toplama ayarları, kütle seçici dedektörde iyonizasyon eksikliği, uygun olmayan yöntem seçimi veya mekanik ya da yazılım hatası gibi birçok nedeni olabilir. Numune kaybını önlemek için bazı saflaştırma sistemleri numune geri kazanım konumları ile donatılmıştır.